Материаловедение

По направлению исследований свойств материалов в основном работают подразделения ТГУ:
  • Томский материаловедческий центр коллективного пользования (ТМЦКП)
  • Центр коллективного пользования сорбционных и каталитических исследований (ЦКП СКИ)
  • ЦКП  «Центр коллективного пользования по металлургии и материаловедению»

Ниже представлены услуги оказываемые этими центрами и их основные единицы оборудования.

Услуги

Измерение прочности гранул методом раздавливания по образующей
Измерение твёрдости по шкалам Роквелла, Бринелля, Виккерса
Исследование твердых образцов методом синхронного термического анализа
Качественный и количественный рентгеноструктурный анализ
Количественное определение элементного состава сталей, чугуна, титана, меди, алюминиевых сплавов, бронзы, латуни по аттестованным методикам
Определение гранулометрического состава образца (распределение частиц по размеру в диапазонах от 0,02 мкм до 2000 мкм).
Определение температур фазовых переходов в металлических матералах
Определение удельной поверхности и пористости структуры твердых тел
Плавка/переплавка металлов и сплавов
Плавление алюминиевых и магниевых сплавов
Полуколичественный элементный анализ твердых материалов и нанопорошков рентгенофлуоресцентным методом
Получение керамических материалов методом самораспространяющегося высокотемпературного синтеза
Проведение структурных исследований методом Растровой Электронной Микроскопии
Регистрация спектров комбинационного рассеяния порошков и твердых образцов
Регистрация спектров поглощения (пропускания) тонких пленок в ИК диапазоне (400-4000 см–1)
Регистрация спектров поглощения порошков и пленок в ИК диапазоне с приставкой НПВО (400-4000 см–1)
Регистрация УФ-вид спектров отражения пленок, объемных образцов с плоской поверхностью с приставкой СДО (250-900 нм)
Регистрация УФ-вид спектров отражения порошков с приставкой СДО (250-900 нм)
Регистрация УФ-вид спектров отражения порошков с приставкой СДО с пробоподготовкой – 10 масс. % образца в матрице MgO (250-900 нм)
Регистрация УФ-вид спектров поглощения/пропускания растворов в кварцевой кювете (190-900 нм)
Спекание и термообработка металлических, керамических и композиционных материалов в вакууме или интертной среде
Стандартная обработка ИК спектров (коррекция базовой линии, удаление полос CO2)
Стандартная обработка КР спектров (коррекция базовой линии, удаление «космиков», сглаживание)
Физико-механические испытания образцов. Композиционные материалы
Физико-механические испытания полимерных материалов: пленки, волокна, пластины
Физико-механические испытания при повышенных и при пониженных температурах
Элементный экспресс-анализ рентгенофлуоресцентным методом

Оборудование

Анализатор 3Flex удельной площади поверхности и пористости

Анализатор 3Flex удельной площади поверхности и пористости
Анализатор размера частиц Mastersizer 2000

Анализатор размера частиц Mastersizer 2000
Анализатор удельной поверхности и пористости Tristar 3020

Анализатор удельной поверхности и пористости Tristar 3020
Высокотемпературный нанотрибометр THT-S-BE-0000

Высокотемпературный нанотрибометр THT-S-BE-0000
Измеритель прочности гранул ИПГ-1М

Измеритель прочности гранул ИПГ-1М
ИК-Фурье спектрометр TENSOR 27

ИК-Фурье спектрометр TENSOR 27
Настольная система наноиндентирования (Table top nanoindentation system)

Настольная система наноиндентирования (Table top nanoindentation system)
Научно-лабораторный комплекс для получения и исследования свойств легких сплавов и нанокомпозитов

Научно-лабораторный комплекс для получения и исследования свойств легких сплавов и нанокомпозитов
Оптико-эмиссионный спектрометр ИСКРОЛАЙН 300К

Оптико-эмиссионный спектрометр ИСКРОЛАЙН 300К
Прибор синхронного термического анализа (дериватограф) STA 409 PC Luxx®+ квадрупольный масс-спектрометр QMS 403 Aëolos®

Прибор синхронного термического анализа (дериватограф) STA 409 PC Luxx®+ квадрупольный масс-спектрометр QMS 403 Aëolos®

Рамановский спектрометр Renishaw inVia Basis

Рамановский спектрометр Renishaw inVia Basis
Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD 6000

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD 6000
Рентгенофлуоресцентная система контроля

Рентгенофлуоресцентная система контроля
Система с электронным и сфокусированными пучками Quanta 200 3D

Система с электронным и сфокусированными пучками Quanta 200 3D
Сканирующий электронный микроскоп Tescan Vega 3 SBH с системой энергодисперсионного микроанализа AztecLive Lite Xplore 30

Сканирующий электронный микроскоп Tescan Vega 3 SBH с системой энергодисперсионного микроанализа AztecLive Lite Xplore 30
Спектрометр рентгенофлуоресцентный волнодисперссионный последовательного действия XRF-1800

Спектрометр рентгенофлуоресцентный волнодисперссионный последовательного действия XRF-1800

Спектрофлуориметр СМ 2203

Спектрофлуориметр СМ 2203
Спектрофотометр Cary 100 Scan

Спектрофотометр Cary 100 Scan
Стенд для измерения удельного электрического сопротивления в зависимости от температуры

Стенд для измерения удельного электрического сопротивления в зависимости от температуры
Универсальная электромеханическая испытательная машина Instron 3369

Универсальная электромеханическая испытательная машина Instron 3369
Универсальная электромеханическая испытательная машина Tinius Olsen 50ST

Универсальная электромеханическая испытательная машина Tinius Olsen 50ST
Электронно-лучевая установка

Электронно-лучевая установка