Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD 6000

Производитель: Shimadzu (Япония)
Год ввода в эксплуатацию: 2004
Метрологическое сопровождение: Поверен. Поверка осуществляется раз в 2 года.

Назначение:

Прибор предназначен для стандартного рентгеноструктурного анализа поликристаллических материалов и позволяет: анализировать параметры структуры и фазовый состав объемных материалов и тонких пленок; управлять процессом рентгеновской съемки и обрабатывать полученные рентгенограммы с помощью компьютера; работать с электронными базами данных рентгеновских спектров.

Оснащен  низкотемпературной камерой ТТК-450 с адаптером XRD- 6000 и контроллером

Технические характеристики:

  • компактная установка (схема Брегга-Брентано) с автоматической блокировкой дверцы при включении X-rays
  • высокоточный вертикальный гониометр с максимальной скоростью вращения 1000° в минуту и точностью воспроизведения по углу 2Θ ±0,001°
  • интервал сканирования по углу 2Θ: -6°÷163°, с минимальным шагом ±0,002°
  • высоковольтный трансформатор для рентгеновских трубок мощностью до 3 кВт
  • Cu X-ray трубка с длинным LFF (long fine focus) фокусом и мощностью 2,2 кВт
  • высокостабильный X-ray генератор, обеспечивающий отклонение по напряжению и по току в пределах ±0,01% 



Услуги

Качественный и количественный рентгеноструктурный анализ