Вы можете подать заявку
Заполните форму заявки, и наш менеджер свяжется с вами
Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп ZEISS LSM 780 NLO
Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)
Год ввода в эксплуатацию: 2014
Метрологическое сопровождение: Не поверяется
Микроскоп дает возможность наблюдать в клетках динамические процессы, не повреждая их, а также получать трехмерное субмикронное разрешение исследуемого объекта (например, при анализе прозрачных образцов).
Технические характеристики
| Сканирующий модуль | с 32-канальным GaAsP детектором и двумя ФЭУ,(охлаждаемый в красной области спектра) |
| Произвольный выбор спектрального диапазона регистрации сигнала | с разрешением до 3 нм (последовательное сканирование) и 10 нм (параллельное сканирование) |
|
Детектор проходящего света |
|
| Два независимых гальванометрических сканирующих зеркала | |
| Сканирующее разрешение | от 4 х 1 до 6144 х 6144 пикселей |
| Скорость сканирования | 14 х 2 скоростей сканирования |
| 8 рамок/сек при 512 х 512 пикселей, 0.38 мсек/линию из 512 пикселей (2619 линий/сек) | |
| Сканирующее увеличение | ZOOM от 0.6х до 40х с шагом 0.1х |
| Свободное вращение | на 360о сканирующей рамки |
| Моторизованный конфокальный pinhole плавной регулировкой диаметра и координат | |
| Разрядность данных | 8, 12 или 16 бит |
| Лазерные линии | 355, 405, 458, 488, 514, 543, 561, 594, 633, перестраиваемый 488-640 |
| Варианты штативов | Инвертированный AxioObserver, Прямой AxioImager, прямой с фиксированнм столиком AxioExaminer |