Проведение структурных исследований методами ПЭМ и РЭМ

Подать заявку на исследование

Проведение структурных исследований металлических, керамических, полупроводниковых, полимерных материалов и биологических объектов методом растровой электронной и просвечивающей электронной микроскопии.

Результат исследования структуры поверхности методом сканирующей электронной микроскопии представляет собой набор предварительных изображений. Для обработки изображений, формирования базы данных изображений и генерации отчета используется программное обеспечение Scandium (Olympus soft imaging solutions). 
Задача обработки предварительных изображений заключается  в:
- улучшении качества изображения программными средствами: контраста, резкости (при необходимости);
-  коррекции наклона изображения (при необходимости);
- измерении размеров объектов, видимых на изображении (линейные размеры, площадь, периметр и т.д.);
- статистической обработке результатов измерений (среднее, наиболее вероятное значение, дисперсия и т.д.).
Использование тех или иных возможностей обработки изображений проводятся по согласованию с заказчиком.
Результаты проведения исследования структуры поверхности представляются в виде набора данных, содержащем графические файлы с изображением поверхности, таблицы с результатами измерений объектов, данные по статистической обработке данных. Дополнительно возможно проведение научного анализа полученных результатов специалистами ЦКП.


Требования к образцу
Толщина объектов должна составлять 50-200 нм. 
Образцы должны иметь форму диска диаметром 3 мм и толщиной не более 0,25 мм. 
Образец должен быть стабильным в условиях вакуума и при взаимодействии с электронным пучком.
Образцы, приготовленные методами химической и электролитической полировки, должны быть тщательно промыты в петролейном эфире или этаноле и просушены.




Оборудование


Нормативная документация

СТО ТГУ 039-2009 Правила проведения исследований структуры кристаллических материалов методом просвечивающей электронной микроскопии
СТО ТГУ 041-2009 Методика проведения исследований структуры поверхности твердого тела методом растровой электронной микроскопии
СТО ТГУ 042-2009 "Методика исследований кристаллической структуры материалов методом дифракции обратно рассеянных электронов

Система акредитации

  • ГОСТ Р