Техническое задание

Поля отмеченные * обязательны к заполнению

Объекты исследования*	Биологические объекты животного происхожденияБиологические объекты растительного происхожденияВодные растворыГазыГорные породы, рудыДревесинаЗолаИноеКатализаторыКерамические материалыКомпозиционные материалыЛекарственные препаратыМеталлыМинеральное сырьеНаноматериалыНаночастицыНефтепродуктыОгнеупорные материалыПластмассыПолимерные материалыРадиопоглощающие материалыСпиртыСплавыСтальСтеклоФармацевтические субстанцииЧугун
Описание образцов (краткое описание, приблизительный состав или другое)*
Размер и форма образца*
Общее количество образцов*
Подлежат ли возврату образцы *	Да Нет
Допустимо ли разрушение образца*	Да Нет
Необходимость пробоподготовки*	Да Нет
Предмет исследования *	(не установлено) 0 ::: Array Состав 0 ::: Array Структура 0 ::: Array Свойства
Услуга*	Запись дифрактограммИсследования химического состава сталей, сплавов с полуколичественным определением Fe, V, Cr, Mn, Mg, Ni, Co, Sn, Cu, Zn, AlКоличественное определение породообразующих окислов в горных породах и рудах (SiO2, TiO2, Al2O3, Fe2O3 (общее), MnO, MgO, CaO, Na2O, K2O, P2O5, ППП)Количественный ИСП-МС анализ биологических объектов растительного происхожденияКоличественный ИСП-МС анализ горных пород и руд №2Количественный ИСП-МС-анализ горных пород и руд №1Полное петрографическое описание прозрачных шлифов кристаллических и обломочных породПолное петрографическое описание прозрачных шлифов с процедурой количественной оценки минерального или гранулометрического составаПолуколичественное определение в горных породах и рудах концентраций U, Th, Bi, Pb, Au, W, Ta, Hf, Sb, Sn, Cd, Ag, Nb, Mo, Y, Zr, Rb, Sr, Se, As, Cu, Zn, Co, Ni, Mn, Fe, V, Ce, K, Ca, Ti, Ba, Mg, Al, Si, P, SПолуколичественный рентгенофазовый анализ горных пород, содержащих до 5 минераловРентгеноструктурные исследования с определением основных параметров кристаллическкой решеткиСпециальные рентгеноструктурные исследования (анализ кристалличности, анализ областей когерентного рассеивания и др.) Термический анализ горных пород, руд, минералов, минерального сырья и продуктов его переработки при стандартных условиях: температурный диапазон от комнатной температуры до 1 000 °С, скорость нагрева 5°С в минуту, среда аргон / воздух)Cеквенирование и биоинформатический анализ данныхАмплификация ДНК в реальном времениЛазерная конфокальная сканирующая микроскопияМультифотонная лазерная конфокальная сканирующая микроскопия в режиме щадящего облучения образцаОпределение антибактериальной активности текстильных изделийОпределение грибостойкости полимерных материалов Определение потребления анионов (сульфат, хлорид, фторид, фосфат, нитрат, нитрит, бромид) в процессе роста микроорганизмов.Определение численности микроорганизмов в бумаге, картоне и целлюлозеОпределение численности микроорганизмов в продуктах, сырье Оценка антимикробнобной активности пластмасс и других непористых материаловОценка стерильности материаловПолучения срезов из замороженной тканиПрепаративный гель-электрофорез нуклеиновых кислот и белковСверхчистая микродиссекция и сбор диссектированного материалаСтерилизация материалов влажным тепломХранение биологических объектовИзмерение прочности гранул методом раздавливания по образующейИзмерение твёрдости по шкалам Роквелла, Бринелля, ВиккерсаИсследование твердых образцов методом синхронного термического анализаКачественный и количественный рентгеноструктурный анализ Количественное определение элементного состава сталей, чугуна, титана, меди, алюминиевых сплавов, бронзы, латуни по аттестованным методикамОпределение гранулометрического состава образца (распределение частиц по размеру в диапазонах от 0,02 мкм до 2000 мкм).Определение температур фазовых переходов в металлических матералахОпределение удельной поверхности и пористости структуры твердых тел Плавка/переплавка металлов и сплавовПлавление алюминиевых и магниевых сплавовПолуколичественный элементный анализ твердых материалов и нанопорошков рентгенофлуоресцентным методом Получение керамических материалов методом самораспространяющегося высокотемпературного синтезаПроведение структурных исследований методом Растровой Электронной МикроскопииРегистрация спектров комбинационного рассеяния порошков и твердых образцовРегистрация спектров поглощения (пропускания) тонких пленок в ИК диапазоне (400-4000 см–1)Регистрация спектров поглощения порошков и пленок в ИК диапазоне с приставкой НПВО (400-4000 см–1)Регистрация УФ-вид спектров отражения пленок, объемных образцов с плоской поверхностью с приставкой СДО (250-900 нм)Регистрация УФ-вид спектров отражения порошков с приставкой СДО (250-900 нм)Регистрация УФ-вид спектров отражения порошков с приставкой СДО с пробоподготовкой – 10 масс. % образца в матрице MgO (250-900 нм)Регистрация УФ-вид спектров поглощения/пропускания растворов в кварцевой кювете (190-900 нм)Спекание и термообработка металлических, керамических и композиционных материалов в вакууме или интертной средеСтандартная обработка ИК спектров (коррекция базовой линии, удаление полос CO2)Стандартная обработка КР спектров (коррекция базовой линии, удаление «космиков», сглаживание)Физико-механические испытания образцов. Композиционные материалыФизико-механические испытания полимерных материалов: пленки, волокна, пластиныФизико-механические испытания при повышенных и при пониженных температурахЭлементный экспресс-анализ рентгенофлуоресцентным методом Программа: Основы ИСП-МС и методы интерпретацииИзмерение амплитудно-частотных характеристик нелинейно-оптических и дипольных генераторов и детекторов терагерцового излученияИзмерение рельефа почвыИзмерение спектров диэлектрической и магнитной проницаемости материалов. Диапазон частот: 10МГц-40ГГцИзмерение спектров оптического пропускания в диапазоне длин волн 350-1000 нмИзмерение температурной зависимости удельной проводимости жидкостей (диапазон частот 20Гц - 2 МГц)Измерения спектров диэлектрической и магнитной проницаемости материалов широкого класса в полосе частот от 100 ГГц до 850 ГГцИмпульсная терагерцовая спектроскопия (THz-TDS)Исследование намагниченности насыщения и остаточной намагниченностиИсследования области релаксации полярных жидкостей. Диапазон частот: 500 МГц -40 ГГц в температурном интервале 0 – 100°СИсследования радиоэлектронных устройств и радиоматериаловМониторинг изменения сопротивления, индуктивности и емкости материалов типа схватывающегося цементного раствора и др.Эмиссионная терагерцовая спектроскопия. Идентификация примесей в фармацевтических субстанциях и лекарственных препаратах методом ВЭЖХ-МС высокого разрешенияИзмерение межфазного натяжения методом вращающейся капли (Spining drop method)Исследование структуры органических соединений методом ЯМР-спектроскопииПодтверждение структуры чистых органических соединений методом газовой и жидкостной хромато-масс-спектрометрииРазработка методик анализа фармацевтических субстанций и лекарственных препаратов методом ВЭЖХЭлементный анализ органических соединений (определения О)Элементный анализ органических соединений (определения СHNS)
Описание услуги
Оборудование	(не установлено)Анализатор 3Flex удельной площади поверхности и пористостиАнализатор размера частиц Mastersizer 2000Анализатор удельной поверхности и пористости Tristar 3020Анализатор элементный для одновременного определения СHNS и О "Еuro EA3000"Векторный анализатор цепей Agilent Е8363ВВысокопроизводительный секвенатор NexSeq 500 Sequencing SystemВысокотемпературный нанотрибометр THT-S-BE-0000Высокоэффективный жидкостной хроматограф Agilent 1200 (комплектация 1260) в комплекте Газовый хроматомасс- спектрометр GCMS - QP2020Дифрактометр рентгеновский X PERT PRO MRDЖидкостной хроматограф Agilent LC 1200Жидкостной хроматограф UltiMate 3000Измеритель модуля коэффициента передачи и отражения P2M-04 Измеритель прочности гранул ИПГ-1МИК Фурье спектрометр ETIR 6600ИК-Фурье спектрометр TENSOR 27Ионный хроматограф Dionex модель EASIONКвадрупольно-времяпролетный масс-спектрометр высокого разрешения Agilent 1260/6550Квадрупольный ICP MS – спектрометр серии Agilent 7500Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп ZEISS LSM 780 NLOМасс спектрометр с индуктивно связанной плазмой Agilent 7900 в комплектеМасс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой HELICON 7000 (ICP-MS)Метеостанция Campbell ScientificМикроскоп биологический для лабораторных исследований Axio Imager со штативом Z2 с принадлежностямиМикроскоп биологический для лабораторных исследований Axio Observer Z1Микроскоп поляризационный Leica DM750 P (проходящий/отраженный цвет) в комплекте с цветной цифпровой камерой Leica МС 170 HDМногофункциональный Рентгеновский дифрактометр DX-2700BHМорозильная камера UF V 700 BinderНабор для тестирования диэлектриковНастольная система наноиндентирования (Table top nanoindentation system)Научно-лабораторный комплекс для получения и исследования свойств легких сплавов и нанокомпозитовОборудование для пробоподготовкиОптико-эмиссионный спектрометр ИСКРОЛАЙН 300КОптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой iCAP7400Duo Оптический поляризационный микроскоп Leica DM2500PПортативный рентгенофлуоресцентный спектрометрПрепаративный жидкостной хроматограф LC 20 ProminenceПрецизионный измеритель RLC Agilent E4980AПрибор синхронного термического анализа (дериватограф) STA 409 PC Luxx®+ квадрупольный масс-спектрометр QMS 403 Aëolos® Рамановский спектрометр Renishaw inVia BasisРентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD 6000Рентгенофлуоресцентная система контроляСистема BluePippin для электрофореза ДНК РНК белков , Sage ScienceСистема с электронным и сфокусированными пучками Quanta 200 3DСканирующий электронный микроскоп Tescan Mira 3LMU в комплекте: система рентгеновского энергодисперсионного микроанализа с безазотным детектором Ultim MAX 40Сканирующий электронный микроскоп Tescan Vega 3 SBH с системой энергодисперсионного микроанализа AztecLive Lite Xplore 30Спектрометр рентгенофлуоресцентный волнодисперссионный последовательного действия XRF-1800 Спектрометр терагерцовый реального времени с Рабочей станция Dell Precision 17920Спектрофлуориметр СМ 2203Спектрофотометр Cary 100 ScanСтенд для измерения удельного электрического сопротивления в зависимости от температурыТензиометр SDTТермоанализатор синхронный STA409РСТермоциклер для амплификации нуклеиновых кислот 1000с с принадлежностями. исполнение С1000 Touch в комплекте с модулем реакционным оптическим CFX96 и ПОУниверсальная электромеханическая испытательная машина Instron 3369Универсальная электромеханическая испытательная машина Tinius Olsen 50STФемтосекундная оптика и оборудование для построения терагерцового спектрометраФлуориметр Qubit 3.0Электронно-лучевая установкаЯМР-спектрометр Bruker AVANCE III HD (400 МГц)
Сроки исполнения*	(не установлено) 0 ::: Array Срочно 0 ::: Array В течении недели 0 ::: Array В течении двух недель 0 ::: Array В течении месяца
Вид результата	(не установлено) 0 ::: Array Результаты в формате установки 0 ::: Array Заключение
Исследование	(не установлено) 0 ::: Array Однократное 0 ::: Array Многократное
ФИО*
Должность*
Возраст составителя Заявки*	(не установлено) 0 ::: Array До 39 лет 0 ::: Array Старше 39 лет
Телефон*
E-mail*
Название организации*
Вид деятельности организации	(не установлено) 0 ::: Array Коммерческая, промышленная организация 0 ::: Array Образовательная организация 0 ::: Array Научная организация 0 ::: Array Государственная бюджетная организация (учреждение), не являющаяся научной и образовательной 0 ::: Array Индивидуальный предприниматель 0 ::: Array Физическое лицо
Источник финансирования	(не установлено) 0 ::: Array Х/д 0 ::: Array Грант 0 ::: Array Договор подряда 0 ::: Array Инициативный проект
Юридический адрес организации
ФИО и должность руководителя организации
Настоящим подтверждаем, что пробы не являются радиоактивными, взрывоопасными, биологически опасными, коррозионноактивными, наркотическими.*	Настоящим подтверждаем, что пробы не являются радиоактивными, взрывоопасными, биологически опасными, коррозионноактивными, наркотическими.
Согласен на обработку персональных данных *	Согласен на обработку персональных данных
Согласен на публикацию данных заявки на сайте*	Согласен на публикацию данных на сайте
Защита от автоматического заполнения
Введите слово с картинки*: