Квадрупольный ICP MS – спектрометр серии Agilent 7500

Это современный комплекс определения концентраций рассеянных элементов (от Be до U) с высокой чувствительностью (до ppt в растворах и до ppm в твердой фазе), который обеспечивает проведение детальных геохимических, экологических и биологических исследований природных систем как на макро-, так и на микроуровне.

Возможности приборной базы в плане анализа:

• анализ степени техногенного загрязнения природных сред
• диагностика элементов примесей в особочистых материалах 
• аналитическое обеспечение рядового опробования при проведении геолого-разведочных работ
• разработка методик количественного анализа методом масс-спектрометрии с  индуктивно связанной плазмой в различных матри  
• анализ микроэлементного состава в силикатных и органических системах (Спектр определяемых параметров/элементов лития (Li) до урана (U)). Чувствительность: концентрации до 10-10 % в растворах и 10-6 % в твердой фазе
• погрешность измерения концентрации 0,02%. 

Технические характеристики

• двуступенчатая вакуумная система
• полупроводниковый генератор с рабочей частотой 27,12 Mhz с цифровым управлением
• максимальная мощность плазмы 1660 Вт
• распылительная камера с элементом Пельтье
• для удаления нейтральных частиц и фотонов используются OMEGA-линзы
• для удаления полиатомных образований используется октопольная реакционная система (OPC), дающая возможность выполнять измерения в режиме полуколичественного анализа одновременно во всем диапазоне масс; газы: He, H2, Xe
• 4 электронных контроллера потока, 3 элетронных контроллера потока
• гиперболические молибденовые квадрупольные стержни; рабочая частота RF-генератора квадруполя 3 Mhz
• диапазон анализируемых масс от 2 до 260 а.е.м.
• скорость обсчета цифровых и аналоговых сигналов: 100 микросекунд
• рабочий линейный диапазон детектора: 9 порядков
• чувствительность без газа: Li (7) > 30х106 ppm, Y (89) > 80х106 ppm, Tl (205) >40х106 ppm
• чувствительность в режиме с гелием: Y (89) > 15х106 ppm
• пределы обнаружения: Be (9) < 1.5 ppt, In (115) < 0.5 ppt, Bi (209) < 0.5 ppt (режим без газа), Se < 4 ppt (режим с Н₂)
• уровнь образования двухзарядных ионов менее 3 %
• изотопная чувствительность во всем диапазоне масс 
  
  Система лазерной абляции New Wave 213
• на основе кристалла Nd: YAG для анализа твердых проб на масс-спектрометрах с индуктивно-связанной плазмой
• длина волны: 213 нм, освещение в проходящем и отраженном свете ПО