Исследование поверхности материалов методом атомно-силовой микроскопии

Подать заявку на исследование

Возможно проведение исследований поверхности материалов:
-исследование трехмерной топологии поверхности тонких пленок и твердых тел на микронном и субмикронном уровне,
-исследование коллагена кожи и кости на наноуровне,
-исследование распределения падения напряжения на сколах полупроводниковых структур со сложным уровнем легирования,
-исследование распределения контактной разности потенциала (поверхностного потенциала) на полупроводниковых сколах со сложным уровнем легирования.

Требования к образцу
Поверхность образца для измерения должна быть чистой, обезжиренной.
Измеряемая поверхность и оборотная сторона быть параллельны друг другу, и быть достаточно ровными, для того чтобы можно было выбрать место для сканирования в рабочих пределах микроскопа.             
Образец должен быть размером не менее 0,5х0,5 см. 

Оборудование


Нормативная документация

СТО ТГУ 054 - 2009  Методика исследования трехмерной топологии поверхности тонких пленок и твердых тел на микронном и субмикронном уровне   методом атомно-силовой микроскопии
СТО ТГУ 055 – 2009 Методика исследования коллагена кожи на наноуровне методом атомно-силовой микроскопии
СТО ТГУ 056 – 2009 Методика исследования кости на наноуровне методом атомно-силовой микроскопии
СТО ТГУ 058 – 2009 Методика исследования распределения падения напряжения на сколах полупроводниковых структур со сложным уровнем легирования методом атомно-силовой микроскопии
СТО ТГУ 059 – 2009 Методика исследования распределения контактной разности потенциала (поверхностного потенциала) на полупроводниковых сколах со сложным уровнем легирования методом атомно-силовой микроскопии