II ШКОЛА-СЕМИНАР СЕТИ ЦЕНТРОВ КОЛЛЕКТИВНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ НАУЧНЫМ ОБОРУДОВАНИЕМ «ИССЛЕДОВАНИЕ И МЕТРОЛОГИЯ НАНОМАТЕРИАЛОВ»

12-16 октября 2009 года
г.Томск
28.09.2015

Конференция проводиться в рамках ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России» и ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2010 годы».

Тематика школы:

  •  Программные продукты для обработки результатов измерений на современном аналитическом оборудовании (рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ, электронная микроскопия и др.).

  •  Метрологическое обеспечение деятельности центров коллективного пользования научным оборудованием.

ПРОГРАММА КОНФЕРЕНЦИИ

  • Секция 1-«Методы и механизмы формирования наноматериалов»
  • Секция 2-«Проблемы компьютерного моделирования процессов в гетерогенных системах с использованием многопроцессорных вычислительных систем»

  • Секция 3-«Синтез, физико-химические методы исследования и применение перспективных материалов»       

  • Секция 4-«Коммерциализация, правовая охрана и использование результатов работ в области нанотехнологий»

Первое информационное сообщение.pdf Программа второй школы ЦКП.pdf