Рамановский спектрометр Renishaw inVia Basis

Области применения системы Renishaw inVia Basis для рамановского спектрального анализа с длинами волн возбуждения 785, 532 и 405 нм:
• Полимеры (Идентификация изомеров, полимеров и композитов, определение степени кристалличности)
• Фармпрепараты (Полиморфизм, идентификация наполнителей и активных субстанций, распределение компонентов в готовой смеси)
• Геммология/минералогия (Идентификация минералов и драгоценных камней, различение натуральных и синтетических или обработанных камней, включения и заполнение фиссур в камнях)
• Химия (Анализ композиций катализаторов, изучение керамики и оксидов)

Основные технические характеристики:

Стигматический одноходовой спектрограф:
1. Высокосветосильный  спектрограф с фокусным расстоянием 250 мм (светосила >30%).
2. Механизм автоматического переключения рэлеевских фильтров.
3. Взаимозаменяемые, не требующие юстировки, парные рэлеевские фильтры для всех длин волн возбуждения, установленные на магнитном основании, обеспечивающие измерение рамановского сдвига  от 6000 до 100 см^-1 (для 405 нм – до 250 см^-1).
4. Набор взаимозаменяемых фокусирующих линз для оптимизации спектрального разрешения.
5. Уникальная технология ‘Easy Confocal’, позволяющая не использовать апертуру малого сечения при работе в конфокальном режиме.
6. Контролируемый энкодерами механизм позиционирования дифракционных решеток с возможностью одновременного монтажа двух решеток (решетки 1200, 1800 и 2400 линий/мм) на взаимозаменяемом магнитном основании.
7. Уникальная технология ‘Extended Scanning’, позволяющая измерять спектры с высоким разрешением в  диапазоне, в несколько раз превышающем размеры CCD-матрицы без их «сшивки».  Спектральное разрешение контролируется с помощью биннинга на CCD-матрице.
8. CCD-матрица – с улучшенными характеристиками, (1024x256 пикселей) и пельтье-охлаждением до  –70 ºC.
9. Моторизованные ослабители лазерного излучения позволяют получать 16 различных уровней мощности от 0.00005 до 100%.

Адаптированный микроскоп исследовательского класса Leica:
1. Регулируемое освещение образца для работы на отражение и пропускание
2. Объективы 5×,  20×, 50×, 100× 
3. Бинокуляры со встроенной видеокамерой
4. Автоматизированный трехкоординатный столик с управлением джойстиком или программным обеспечением, обеспечивающий выполнение картирования и глубинного профилирования в конфокальном режиме. Размер шага 0,1 мкм по осям XY, 16 нм по оси Z. Включает ПО Renishaw WiRE XYZ Stage, Mapping Control и Renishaw WiRE FocusTrack).

Лазеры: 
1. Renishaw точечный диодный лазер, 100 мВт при 785 нм.
2. Renishaw твердотельный лазер, 100 мВт при 532 нм.
3. Диодный лазер, 50 мВт при 405 нм.

Преимущества:

• Неразрушающий метод (Незначительная пробоподготовка, бесконтактная неразрушающая техника)
• Высокое пространственное разрешение: возможность изучения частиц размером от 1 мкм 
• Высокая скорость: получение спектров за секунды 
• Нетребовательность к образцу: твердые объекты, жидкости, газы. Образцы могут быть в растворе или суспензии, а так же могут быть в стеклянных или пластиковых прозрачных контейнерах