Спектрометр эмиссионный тлеющего разряда GD-Profiler HR

Производитель: HORIBA (Франция)
Год ввода в эксплуатацию: 2011
Метрологическое сопровождение: Проходит ежегодную поверку
Спектрометр эмиссионный тлеющего разряда GD-Profilerпредназначен для определения массовой доли элементов в твердых электропроводных и неэлектропроводных образцах с предварительно отшлифованной поверхностью. 

Основное применение спектрометра заключается в определении массовой доли элементов как сплавах, так и в керамических материалах, стекле и неметаллических покрытиях.

  Принцип действия спектрометров основан на измерении интенсивности линий в спектре эмиссионного излучения ионизированных атомов анализируемых элементов, возбуждаемого в низкотемпературной аргоновой плазме. Содержание элементов в образце определяется по градуировочным зависимостям  между интенсивностью эмиссионного излучения и содержанием элемента в образце.

  • Прибор позволяет проводить полный элементный анализ поверхностного слоя, включая H, O, C и Cl, до толщины 300 мкм
  • Высокая скорость сканирования до 9 мкм/мин (150 нм/сек)
  • Разрешение по глубине 1 нм при скорости сканирования 50нм/сек
  • Полихроматор Пашена-Рунге (фокусное расстояние - 100 см)
  • Радиочастотный генератор 13,56 мГц (дает возможность проводить измерения проводящих и непроводящих образцов в одном цикле)
  • Предусмотрен пульсирующий режим генератора для анализа хрупких образцов
  • Решетка полихроматора -2400 штр/мм
  • Разрешение менее 0,007 нм в УФ во 2- ом порядке спектра
  • Система автоматического сканирования Polyscan для отслеживания интерференций (± 2 нм вокруг каждого канала)
  • Размер аналитической зоны 2-8 мм