Просвечивающий электронный микроскоп Philips СМ 30

Производитель: Philips (Нидерланды)
Год ввода в эксплуатацию: 1989
Метрологическое сопровождение: Проходит ежегодную поверку

Назначение

просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения (TWIN-объективная линза, разрешающая способность до 0,24 нм); дифракционный анализ, наклон образца до ±60°; сканирующая электронная микроскопия (светлое и темное поле); качественный и полуколичественный рентгеноспектральный анализ; пространственное распределение химических элементов.

Прибор оснащен

  • системой цифрового захвата  и обработки изображения
  • энергодисперсионным рентгеновским анализатором LINK 
  • EDX детектором  
  • спектрометром энергетических потерь электронов GATAN 
  • цифровой камерой высокого разрешения Sis Keen View (Камера SIS KeenView обладает высокой чувствительностью и высоким, сравнимым с фотографическим, качеством изображения. Камера обеспечивает получение изображения в режиме реального времени, наблюдение одновременно нескольким исследователями на экране компьютера) 

Требования к материалам исследований:

  • размер образцов - диск диаметром 3 мм
  • толщина образцов не более 200 нм