Атомно-силовой микроскоп с вакуумной камерой Solver HV

Производитель: ЗАО «НТ-МДТ» (Россия)
Год ввода в эксплуатацию: 2006
Метрологическое сопровождение: Проходит ежегодную поверку

Система позволяет проводить параллельно с изучением топографии поверхности исследуемого образца физические, магнитные, электрические и электростатические характеристики поверхности.

Система оснащена:

  • сканирующей головкой с полем зрения 100х100х5 мкм
  • вакуумная системой с возможностью создания остаточного давления 10-6Torr
  • магнитопроводами с возможностью изменения магнитного поля до 1 кГаусса (±0,1 Т)
  • оптической системой настройки лазера и выбора места сканирования с увеличением х250
  • системой виброзащиты с активной активным демпфированием – 0,6 – 100Гц, пассивным демпфированием - > 100Гц

Требования к материалам исследований:

  • чистота объекта (отсутствие на поверхности пыли, загрязнений органического происхождения)
  • максимальный размер образца 10х10х2 см

Услуги