Вы можете подать заявку
Заполните форму заявки, и наш менеджер свяжется с вами
Рентгеновский дифрактометр Panalytical X ’ PERT PRO MRD Extended предназначен для исследования тонких структурных особенностей монокристаллов и гетероэпитаксиальных пленок толщиной от нескольких нанометров до нескольких микрон.
В дифрактометре используется горизонтальный гониометр высокого разрешения.
Модульная конструкция
Размещение оптических модулей спроектировано на уникальной разработке PANalytical - платформе PreFIX(Pre-aligned Fast Interchangeable X-ray modules) с жесткой стабилизацией позиции.
Не имеющая аналогов платформа PreFIX с использованием технологий прецизионной механики позволяет производить смену оптических модулей максимально быстро (за время не более 20-50 сек) и без дополнительной юстировки. Таким образом, в одном дифрактометре обеспечивается возможность без труда проводить измерения порошков, моно- и поликристаллов, полупроводников, пленок, поверхностей и т.д. последовательно, просто заменив соответствующую приставку без последующей утомительной юстировки.
Области применения: