Система рентгеновского энерго-дисперсионного микроанализа Oxford INCA Energy350, интегрированная с электронным микроскопом VEGA II LMU

Производитель: Oxford Instruments (Великобритания)
Год ввода в эксплуатацию: 2007
Метрологическое сопровождение: Проходит ежегодную поверку

Данный аналитический комплекс представляет собой современную компьютеризированную систему, позволяющую проводить исследование морфологии и структурной неоднородности твердых сред (кристаллических и органо-минеральных образований) с высоким разрешением, а также изучать вещественный состав (главные компоненты с концентрацией от 0.1-0.3% до 100%) в локальном участке диаметром около 3 мкм.  
Подобный анализ природных объектов обеспечивает выявление их возможной зональности, наличие инородных включений и оперативную диагностику автономных фаз. Кроме того, он позволяет изучать закономерности распределения химических элементов между сосуществующими фазами.

Возможности приборной базы в плане анализа:

  • определение кинетических условий загрязнения инженерных сооружений твердофазным агрегатом (известковых наростов в водопроводных коммуникациях, загрязнение выхлопных трубопроводов)
  • диагностика деформационных структур в твердых материалах
  • анализ внутренней структуры и вещественной неоднородности природных образований (минеральные и органические системы). Детектор - Si (Li), соответствует стандарту ISO 15632:2002. 

Комплекс растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального анализа VEGA II LMU

  • разрешение 3 нм при 30 кВ (в режиме высокого вакуума (SE)) и 3.5 нм при 30 кВ (в режиме низкого вакуума (BSE, LVSTD))
  • увеличение без искажений от 15х до 500000х
  • детекторы: вторичных электронов SE-ET type, выдвижной отражённых электронов R BSE
  • рабочее значение вакуума: режим высокого вакуума 5х10-3 Па, режим среднего вакуума 5-150 Па, режим низкого вакуума 5-500 Па 


Система рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Oxford INCA Energy 350

  • детектор: Si (Li) Standard
  • разрешение: 133 эВ
  • площадь кристалла: 10 мм2
  • анализ элементов: от Be (бериллий) до U (уран) 


Система волнодисперсионного анализа Oxford INCA Wave

  • полупроводниковый детектор на основе технологии SDD  
  • площадь полупроводникового кристалла - 10 мм2 
  • стабильность позиции пиков в пределах 1 эВ
  • гарантированный стабильные характеристики в диапазоне скоростей счета от 1000 до 40000 имп/сек
  • возможность детектирования легких элементов от В (Бора)



Услуги