Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп ZEISS LSM 780 NLO

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)
Год ввода в эксплуатацию: 2014
Метрологическое сопровождение: Не поверяется

Аппарат дает возможность наблюдать в клетках динамические процессы, не повреждая их, а также получать трехмерное субмикронное разрешение исследуемого объекта (например, при анализе прозрачных образцов).
Дополнение микроскопа LSM 780 NLO Рамановской приставкой объединяет возможности двух мощных методик исследования объектов – лазерной конфокальной флуоресцентной микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния света (Раман-спектроскопия).
Такое совмещение дает возможность одновременно воспроизводить топографию образца и его флуоресцентные свойства и идентифицировать составляющие его химические компоненты.

Технические характеристики

Сканирующий модуль  с 32-канальным GaAsP детектором и двумя ФЭУ,(охлаждаемый в красной области спектра)
Произвольный выбор спектрального диапазона регистрации сигнала с разрешением до 3 нм (последовательное сканирование) и 10 нм (параллельное сканирование)
Детектор проходящего света 
Два независимых гальванометрических сканирующих зеркала
Сканирующее разрешение от 4 х 1 до 6144 х 6144 пикселей
Скорость сканирования 14 х 2 скоростей сканирования
8 рамок/сек при 512 х 512 пикселей, 0.38 мсек/линию из 512 пикселей (2619 линий/сек)
Сканирующее увеличение  ZOOM от 0.6х до 40х с шагом 0.1х
Свободное вращение  на 360о сканирующей рамки
Моторизованный конфокальный pinhole плавной регулировкой диаметра и координат
Разрядность данных 8, 12 или 16 бит
Лазерные линии 355, 405, 458, 488, 514, 543, 561, 594, 633, перестраиваемый 488-640
Варианты штативов Инвертированный AxioObserver, Прямой AxioImager, прямой с фиксированнм столиком AxioExaminer




Услуги